AFM-拉曼和针尖增强拉曼散射（TERS）
HORIBA拉曼技术非常容易与扫描探针显微镜（SPM）耦联。我们所提供的完美解决方案使用直接光路耦合，对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜（AFM）、近场光学技术（SNOM, NSOM）、扫描隧道显微镜（STM）和共焦光学光谱仪（拉曼和荧光成像）耦合到一台多功能的仪器中，以实现针尖增强拉曼散射（TERS）或共点测量。
HORIBA和几乎所有的知名制造商合作，包括AIST-NT、安捷伦、Asylum Research、布鲁克（原来的Veeco）、JPK、Nanonics和Park。
结合纳米成像和化学分析
单层、双层和三层石墨烯的共点AFM和拉曼成像
AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。
共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。
同步测量的独特平台，有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。
结合高性能和易用性，HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案
针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的，同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持，您可以自信地使用这一技术。
一个工具多种可能：AFM-拉曼有助于您提高效率
快速找到纳米对象
由于纳米材料具有特殊的化学属性，拉曼峰信号较强，因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后，我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。
交叉验证您的数据！
拉曼光谱可以证实材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚，拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息，此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息，此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。
获得感兴趣纳米结构的化学信息
在表征纳米结构时，有时仅获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息，这是其他SPM传感器无法实现的。
探索TERS（针尖增强拉曼散射）领域
TERS（或纳米拉曼）可以综合两种技术之优势：可获得空间分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化学特异性拉曼光谱成像。该技术可用于表征从纳米管到DNA等各种样品。
多种光学配置
HORIBA的AFM-拉曼平台支持多种光学方案：
底部耦联：针对透明样品
顶部耦联：针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS
侧向耦联：测定不透明样品的TERS的最优解决方案
可提供多端口和并排配置
HORIBA拉曼技术非常容易与扫描探针显微镜（SPM）耦联。我们所提供的完美解决方案使用直接光路耦合，对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜（AFM）、近场光学技术（SNOM, NSOM）、扫描隧道显微镜（STM）和共焦光学光谱仪（拉曼和荧光成像）耦合到一台多功能的仪器中，以实现针尖增强拉曼散射（TERS）或共点测量。
HORIBA和几乎所有的知名制造商合作，包括AIST-NT、安捷伦、Asylum Research、布鲁克（原来的Veeco）、JPK、Nanonics和Park。
结合纳米成像和化学分析
单层、双层和三层石墨烯的共点AFM和拉曼成像
AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。
共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。
同步测量的独特平台，有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。
结合高性能和易用性，HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案
针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的，同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持，您可以自信地使用这一技术。
一个工具多种可能：AFM-拉曼有助于您提高效率
快速找到纳米对象
由于纳米材料具有特殊的化学属性，拉曼峰信号较强，因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后，我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。
交叉验证您的数据！
拉曼光谱可以证实材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚，拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息，此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息，此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。
获得感兴趣纳米结构的化学信息
在表征纳米结构时，有时仅获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息，这是其他SPM传感器无法实现的。
探索TERS（针尖增强拉曼散射）领域
TERS（或纳米拉曼）可以综合两种技术之优势：可获得空间分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化学特异性拉曼光谱成像。该技术可用于表征从纳米管到DNA等各种样品。
多种光学配置
HORIBA的AFM-拉曼平台支持多种光学方案：
底部耦联：针对透明样品
顶部耦联：针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS
侧向耦联：测定不透明样品的TERS的最优解决方案
可提供多端口和并排配置